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關于介電常數(shù)測試儀

日期:2019-02-22瀏覽:2670次

HCJDCS-B型 高頻介電常數(shù)及介質損耗測試儀

產品簡介
 

HCJDCS-B介電常數(shù)及介質損耗測試儀是根據(jù)GB/T 1409《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內)下電容率和介質損耗因數(shù)的試驗方法》(等效采用IEC 60250)設計和制造的,并符合JB 7770等試驗方法。

介質損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷的一項重要的物理性質,通過測定介質損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進一步了解影響介質損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);該儀器廣泛應用于大專院校、科研院所對無機非金屬新材料性能的應用研究。儀器遵從標準:GB/T5594.4-1985。
產品特點

它適用于在高頻(1MHz)下絕緣材料的測試。

 

介電常數(shù)又稱電容率或相對電容率,是表征電介質或絕緣材料電性能的一個重要數(shù)據(jù),常用ε表示。介質在外加電場時會產生感應電荷而削弱電場,原外加電場(真空中)與終介質中電場比值即為介電常數(shù)。其表示電介質在電場中貯存靜電能的相對能力,例如一個電容板中充入介電常數(shù)為ε的物質后可使其電容變大ε倍。介電常數(shù)愈小絕緣性愈好。如果有高介電常數(shù)的材料放在電場中,場的強度會在電介質內有可觀的下降。介電常數(shù)還用來表示介質的極化程度,宏觀的介電常數(shù)的大小,反應了微觀的極化現(xiàn)象的強弱。氣體電介質的極化現(xiàn)象比較弱,各種氣體的相對介電常數(shù)都接近1,液體、固體的介電常數(shù)則各不相同,而且介電常數(shù)還與溫度、電源頻率有關。

 

物質介電常數(shù)具有復數(shù)形式,其實部即為介電常數(shù),虛數(shù)部分常稱為耗散因數(shù)。

通常將耗散因數(shù)與介電常數(shù)之比稱作耗散角正切,其可表示材料與微波的耦合能力,耗散角正切值越大,材料與微波的耦合能力就越強。例如當電磁波穿過電解質時,波的速度被減小,波長也變短了。
適用范圍
 該儀器用于科研單學、學校、工廠等單位對無機非金屬新材料性能的應用研究。
參數(shù)規(guī)格

1 Q值測量范圍:5~999

 

   Q值量程分檔:30、100、300、999、自動換檔或手動換擋

 

   誤差:25kHz~10MHz   ≤5%±滿度值的2%

 

            10MHz~50MHz ≤7%±滿度值的2%

 

2 電感測量范圍:0.1μH~1H 分七個量程

 

3 電容測量范圍:1PF~460PF

 

   主電容調節(jié)范圍:40PF~500 PF

 

   度:150PF以下±1.5PF

 

           150PF以上±1%

 

   微調電容調節(jié)范圍:-3PF~0PF~+3PF

 

   度:±0.2PF

 

4 頻率覆蓋范圍:25 kHz~50MHz 分七段

 

   指示誤差:2×10-4±2個字

 

5 電源:220V±22V   50Hz±2.5Hz   25W

 

6 環(huán)境溫度:(0~+40)℃

 

7 相對濕度:RH<80%

 

8 外形尺寸:380mm×132mm×280mm

 

9 重量:約7kg

 

10.電感9只;

 

11.夾具一套

工作原理

1.本儀器適用于110V/220V , 50Hz+0.5Hz交流電,使用前要檢查市電電壓是否合適,采用穩(wěn)壓電源,以保證測試條件的穩(wěn)定。

 

2.開機預熱15分鐘,使儀器恢復正常狀態(tài)后才能開始測試。

 

3.按部件標準制備好的陶瓷試樣,兩面用燒滲法被上銀層,并分別焊上一根Φ0.8mm,30~40mm長的金屬引線。引線材料為銅,表面鍍銀并浸錫。

 

4.選擇適當?shù)妮o助線圈插入電感接線柱。根據(jù)需要選擇振蕩器頻率,調節(jié)測試電路電容器使電路諧振。假定諧振時電容為C1,品質因素為Q1。

 

5.“△Q零點調節(jié)”旋鈕使Q表指向表頭中間零點。

 

6.“Q量程”開關扳回500檔。

 

7.將被測樣品接在“CX”接線柱上。

 

8.再調節(jié)測試電路電容器使電路諧振,這時電容為C2,“Q量程”扳向△Q位置,可以直接讀出△Q,并且Q2= Q1-△Q,將Q表量程扳回500檔。

 

9.用游標卡尺量出試樣的直徑Φ和厚度d(分別在不同位置測得兩個數(shù)據(jù),再取其平均值)。

 

四、實驗結果

 

1.tanδ和ε測定記錄

 

實驗數(shù)據(jù)按表1要求填寫。

 

表1             tanδ和ε測定記錄表

 

試樣名稱

 

測定人

 

測定時間

 

試樣處理

 

編號

C1

C2

C

d

ψ

δ

Q1

△Q

Q2

tanδ

QX

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

2.計算

 

Cd

Φ2

 

1)介電常數(shù)ε

 

ε=

 

 

 

式中:C---試樣的電容量(PF), C= C1-C2

 

d---試樣厚度(cm);

 

Φ—試樣直徑(cm)。

 

  C1     △Q       C1     Q1-Q

C1-C2    Q1* Q2     C1-C2    Q1* Q2

 

2)介質損耗角正切tanδ

 

                 tanδ=        *        =       *

 

 

 

 1     Q1Q2   C1-C2

tanδ   Q1-Q2     C1

 

3) Q值

 

                  Q =     =       *

 

 

注意事項

1.圓片形試樣的尺寸(Φ=38mm+1mm,d=2mm+0.5mm)要符合公差要求,兩面燒滲銀層、浸錫及焊接引出線要符合技術條件。

 

2.電壓或頻率的劇烈波動常使電橋不能達到良好的平衡,所以測定時,電壓和頻率要求穩(wěn)定,電壓變動不得大于1%,頻率變動不得大于0.5%。

 

3.電極與試樣的接觸情況,對tanδ的測試結果有很大影響,因此燒滲銀層電極要求接觸良好、均勻,而厚度合適。

 

4.試樣吸濕后,測得的tanδ值增大,影響測量精度,應嚴格避免試樣吸潮。

 

5.在測量過程中,注意隨時檢查電橋本體屏蔽的情況,當電橋真正達到平衡,“本體-屏蔽”開關置于任何一邊時,檢查計光帶均應小,而無大變化。

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