薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀的研制

薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀的研制

    電氣用塑料薄膜的生產(chǎn)過程中，會(huì)出現(xiàn)薄膜穿孔、導(dǎo)電顆粒積聚、

劃傷等影響電氣性能的電弱點(diǎn)。根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)《GB/T 13541-92 電氣

用塑料薄膜試驗(yàn)方法》，電氣用塑料薄膜要求進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試，在給

定直流電壓下每平方米的擊穿點(diǎn)（電弱點(diǎn)）數(shù)成為衡量薄膜質(zhì)量的重

要指標(biāo)。設(shè)計(jì)的薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀，無須將膜卷分切成小卷，根據(jù)薄

膜的使用寬度直接進(jìn)行電弱點(diǎn)測(cè)試。由于薄膜在生產(chǎn)過程中極易引起

縱向劃傷，該儀器*引用“電弱線”概念，即在規(guī)定的時(shí)間內(nèi)檢測(cè)

到的試樣漏電流均超過 1 mA 時(shí)，認(rèn)定為該薄膜試樣在生產(chǎn)過程中存

在縱向劃痕，從而產(chǎn)生“電弱線”，測(cè)試儀統(tǒng)計(jì)的電弱點(diǎn)總數(shù)為電弱

點(diǎn)數(shù)與電弱線數(shù)之和，這樣的測(cè)試數(shù)據(jù)更能真實(shí)地反映薄膜的質(zhì)量水

平，且有助于分析生產(chǎn)過程中存在的問題，從而有針對(duì)地提出解決問

題的方案。

工作原理：

    被測(cè)試的薄膜卷置于放卷臂上，通過絕緣導(dǎo)向輥將被測(cè)試的薄膜牽

引至收卷臂上，伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)收卷臂使被測(cè)試的薄膜移動(dòng)，構(gòu)成走膜

裝置。通過固定在速度檢測(cè)輥的增量光電編碼器檢測(cè)薄膜移動(dòng)長度，

根據(jù)被測(cè)試薄膜的寬度設(shè)定測(cè)試寬度，從而算出被測(cè)試的薄膜測(cè)試面

積。

    測(cè)試的直流電壓正極接在導(dǎo)電橡膠安裝軸上，通過導(dǎo)電橡膠與移動(dòng)

的薄膜一面接觸，形成上電極。移動(dòng)的薄膜另一面與構(gòu)成下電極的銅

輥接觸，銅輥通過漏電流采樣電阻與直流電壓負(fù)極連接，導(dǎo)電橡膠與

銅輥構(gòu)成加壓裝置。

    由走膜裝置、絕緣導(dǎo)向輥、速度檢測(cè)輥等構(gòu)成被測(cè)試薄膜的面積檢

測(cè)系統(tǒng)；由加壓裝置、漏電流采樣電阻等構(gòu)成被測(cè)試薄膜的電弱點(diǎn)檢

測(cè)系統(tǒng)。

測(cè)試儀結(jié)構(gòu)：

    薄膜電弱點(diǎn)測(cè)試儀外形為柜狀一體化設(shè)計(jì)，左側(cè)為走膜及加壓裝

置，右側(cè)為控制系統(tǒng)及操作面板。