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手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍

日期:2022-06-07瀏覽:1461次

手動(dòng)探針臺(tái)的應(yīng)用范圍

 

 微型真空探針臺(tái)是一款用于材料電學(xué)表征和測(cè)量的微型桌面型電學(xué)測(cè)量臺(tái),主要用于介電、壓電、鐵電、熱釋電、光電等材料的電學(xué)性能表征和測(cè)量,還可以在真空、氣氛環(huán)境下對(duì)材料進(jìn)行電學(xué)測(cè)量評(píng)估,是實(shí)驗(yàn)室測(cè)量薄膜材料電學(xué)材料B備工具,廣泛用于高校、科研、航天航空、軍工院所等領(lǐng)域。

  應(yīng)用:晶圓、芯片、LED測(cè)試、場(chǎng)晶體管、IGBT、分立器件等測(cè)試類(lèi)型:IV/CV測(cè)試、RF測(cè)試、光電測(cè)試等搭配儀器:吉時(shí)利2400系列、4200系列、安捷倫B2900系列、1500系列等特點(diǎn):超高真空環(huán)境、避免氧化、結(jié)霜,77K-675K溫度測(cè)試范圍,外置探針臂操作更穩(wěn)定、精準(zhǔn),可兼容不同類(lèi)型顯微鏡滿足不同觀察要求、可滿足光譜測(cè)試、液氮開(kāi)循環(huán)制冷,降低研發(fā)成本,模塊化設(shè)計(jì)、后期可無(wú)縫升級(jí)配置。

 

1、HCMP-手動(dòng)探針臺(tái).png

 

 

應(yīng)用場(chǎng)景:晶圓芯片高低溫測(cè)試

測(cè)試類(lèi)型:IV/CV/RF

樣品臺(tái):4英寸

溫度范圍:77K-673K

真空度:10E-4Pa

顯微鏡類(lèi)型:?jiǎn)瓮?、體視、金相顯微鏡

探針臂數(shù)量:2-6個(gè)

探針臂移動(dòng):50mm*50mm*50mm

測(cè)試接口:BNC三同軸

測(cè)試精度:100fA

可搭配儀器:源表、半導(dǎo)體參數(shù)分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、示波器等

 

 

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