鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品型號(hào)：TF Analyzer 2000E

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-10-25

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

鐵電參數(shù)分析儀

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

本設(shè)備即可適用于壓電陶瓷材料居里溫度、縱向壓電應(yīng)變常數(shù)（靜態(tài)）、強(qiáng)場(chǎng)介電性能、熱釋電系數(shù)、品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)等；如增加高壓放大器模塊，也可實(shí)現(xiàn)鐵電材料的電學(xué)測(cè)試；配合高低溫試環(huán)境同時(shí)可以測(cè)量不同環(huán)境溫度下的材料性能參數(shù)。該系統(tǒng)可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋點(diǎn)薄膜、厚膜、塊體材料和電子陶瓷、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究。為一體的綜合測(cè)試系統(tǒng)。

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

它可測(cè)壓電陶瓷居里溫度、靜態(tài)壓電常數(shù)；

測(cè)量壓電材料介電性能-1KHZ下的介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試；

可測(cè)量壓電材料積分電荷法熱釋電系數(shù)測(cè)試；

它可測(cè)量壓電陶瓷的品質(zhì)因數(shù)及機(jī)電耦合系數(shù)；

可選配不同的測(cè)試裝置進(jìn)行不同環(huán)境下的壓電陶瓷參數(shù)測(cè)試；

本儀器可配合高壓放大器實(shí)現(xiàn)壓電及鐵電材料的綜合測(cè)試。

技術(shù)參數(shù)：

技術(shù)說(shuō)明：

電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV）；

電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz；

脈沖寬度min：50ns；

上升時(shí)間min：10ns；

疲勞頻率max：16MHz；

電流放大范圍：1pA～1A；

負(fù)荷電容max：1nF；

輸出電流峰值：+/-1 A。

壓電常數(shù)測(cè)試原理：

1、5—加壓裝置絕緣座                  2、4—加壓裝置引出電極

3—試樣                                        C—并聯(lián)電容器    

K—短路開(kāi)關(guān)                                 6—靜電計(jì)  

熱釋電系數(shù)測(cè)試原理:

1、冰點(diǎn)  2、熱電偶  3、屏蔽溫度室  4、試樣  5、絕緣保溫層

6、積分電容 7、靜電計(jì) 8、函數(shù)分析儀 9、加熱器 10、絕緣支架

使用介面：

     多語(yǔ)介面：支持中文/英文兩種語(yǔ)言界面；

    即時(shí)監(jiān)控：系統(tǒng)測(cè)試狀態(tài)即時(shí)瀏覽，無(wú)須等待；

    圖例管理：通過(guò)軟件中的狀態(tài)圖示，一目了然，立即對(duì)狀態(tài)說(shuō)明，了解測(cè)試狀態(tài)；

    使用權(quán)限：可設(shè)定使用者的權(quán)限，方便管理；

    故障狀態(tài)：軟件具有設(shè)備的故障報(bào)警功能。

    集成Intel@Celeron 1037U 1.8GHZ 雙核處理器

    集成打機(jī)印接口，可擴(kuò)充8個(gè)USB接口

    可支持16G內(nèi)存，60G固態(tài)硬盤，讓系統(tǒng)運(yùn)行流暢。

鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)

鐵電材料參數(shù)分析儀綜合測(cè)試系統(tǒng)