熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器

產(chǎn)品型號(hào)：HTSC2000

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

所在地：北京市

更新日期：2024-09-25

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器

HC-TSC2000熱刺激電流測(cè)試儀由華測(cè)儀器多位工程師多年開發(fā)，其具有測(cè)試功能，設(shè)備最大支持測(cè)試電壓10kV，采用冷臺(tái)的方式進(jìn)行加溫與制冷，測(cè)量引用使用低噪聲線纜，減少測(cè)試導(dǎo)線的影響，同時(shí)電極加熱采用直流電極加熱方式，減少電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量儀表的干擾。測(cè)試功能上也增加了高阻測(cè)試、擊穿測(cè)試、也方便擴(kuò)展介電譜等測(cè)量功能。它能夠在不同測(cè)量條件和測(cè)量模式下進(jìn)行連續(xù)和高速的測(cè)量。

 為賦予材料以駐極體特性，需要采用一定的手段將電荷注入到材料內(nèi)，這一過程稱為駐極。目前，MBPP 駐極體非織造布駐極的方法主要有電暈 放電法，可分為正電暈放電和負(fù)電暈放電。正電 暈放電時(shí)，在電場(chǎng)力作用下電子和陰離子向曲率半徑小的電極移動(dòng)，正離子向鋪有 MBPP 的電極移 動(dòng); 負(fù)電暈放電時(shí)則相反。 現(xiàn)有實(shí)踐表明，不同電暈駐極條件下獲得的MBPP 駐極體非織造布的過濾效率存在差異，但其機(jī)制并不清楚。表面電位大小是用來表征薄膜駐極體性能的一個(gè)重要參數(shù)，但對(duì)非織造布而言，表面電位高低與其過濾效率并沒有很好的相關(guān)性。另外，駐極體電荷在使用環(huán)境下的穩(wěn)定性也是影響其應(yīng)用性能的一個(gè)重要因素。針對(duì)以上問題，我司采用熱刺激放電( TSD) 和表面電位分布測(cè)量技術(shù)，研究了 MBPP 駐極體非織造布的電荷存儲(chǔ)和電荷分布特性，分析了 MBPP 駐極體非織造布的電荷存儲(chǔ)機(jī)制，對(duì)造成產(chǎn)品性能差異的機(jī)制也進(jìn)行了討論。

消除電網(wǎng)諧波對(duì)采集精度的影響

        電網(wǎng)諧波是電網(wǎng)中存在的除基波電壓、電流以外的高次諧波分量。諧波產(chǎn)生的原因是由于非線性負(fù)載所致。當(dāng)電流流經(jīng)負(fù)載時(shí)，與所加的電壓不呈線性關(guān)系，就形成非正弦電流，從而產(chǎn)生諧波。嚴(yán)重干擾通信、計(jì)算機(jī)系統(tǒng)、精度高的加工機(jī)械，檢測(cè)儀表等用電設(shè)備的使用。目前加熱裝置大都是交流加熱絲加熱。交流加熱即50Hz正弦波對(duì)加熱絲進(jìn)行加熱的方式。為了解決這種工頻干擾以及電網(wǎng)諧波對(duì)測(cè)量的影響，華測(cè)儀器采用了直流加熱方式進(jìn)行加熱。同時(shí)加入濾波等方式以減少對(duì)測(cè)量過程中的影響。大大提升測(cè)量的精度。

消除高溫環(huán)境下測(cè)量導(dǎo)線阻抗影響及內(nèi)部屏蔽

1、傳輸線受其材料及結(jié)構(gòu)的影響，當(dāng)傳輸高頻信號(hào)時(shí)，導(dǎo)線內(nèi)各點(diǎn)電流與電壓的特性比。阻抗的不一致(不匹配)會(huì)導(dǎo)致測(cè)量的數(shù)據(jù)存在一定的誤差。所以在測(cè)量過程中一定要采用阻抗更匹配的測(cè)量導(dǎo)線；

2、測(cè)量的導(dǎo)線也存在著一定的阻抗及頻率響應(yīng)，故縮短測(cè)量導(dǎo)線將提高測(cè)量精度；

3、高溫環(huán)境下的測(cè)量導(dǎo)線 無法做到較好的屏蔽，大都只做了絕緣處理，高溫導(dǎo)線受溫度的影響阻值變大，高溫導(dǎo)線因要求通過絕緣件（如陶瓷、耐火材料等）將會(huì)把一部分電容引入測(cè)量。增大測(cè)量誤差；

4、測(cè)量的方式采用三電極測(cè)量，將會(huì)起到較好的屏蔽作用。

優(yōu)化樣品的溫度測(cè)量方式及測(cè)量電極

1、通過平行板電極的測(cè)量原理，可以較好的說明測(cè)量的電極盡可能小，減少空間及雜散電容的影響，好的辦法是在樣品上濺射一層導(dǎo)電材質(zhì)。    

2、因不同的材料熱晗不同，以熱電偶靠近樣品測(cè)試的溫度作為樣品的溫度同樣存在著一定的誤差。如果采用參比樣品的方式進(jìn)行測(cè)量，那么樣品的溫度就是材料真實(shí)溫度。

熔噴布TSD熱刺激電流測(cè)試儀器